精密阻抗分析儀●簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手

●電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案

●30 ms超高速測試速度

●等效Rdc 可高度精準(zhǔn)四線式測試，量測到0.01mΩ

●0.05%基本精確度

●可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias 

●可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

●20Hz~120MHz，七種機(jī)型，可隨時(shí)升級 ，最高升級到120MHz

●直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER 

●可使用鼠標(biāo)及鍵盤操控，也可外接打印機(jī)及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)

●具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺

●精密阻抗分析儀七種機(jī)型且最高可升級到 120MHz

    1J6505B   頻率范圍 20Hz ~ 5MHz

    1J6510B   頻率范圍 20Hz ~ 10MHz

    1J6515B   頻率范圍 20Hz ~ 15MHz

    1J6520B   頻率范圍 20Hz ~ 20MHz

    1J6530B   頻率范圍 20Hz ~ 30MHz

    1J6550B   頻率范圍 20Hz ~ 50MHz

    1J65120B 頻率范圍 20Hz ~ 120MHz

準(zhǔn)確快速的進(jìn)行元件測試, ±0.05%基本精確度, 使該系列產(chǎn)品成為同級當(dāng)中的*。

精準(zhǔn)和多功能性使WK6500系列成為各種不同類型的工作和應(yīng)用程式的理想選擇。使用者包括被動元件設(shè)計(jì)師，電介體、絕緣體的設(shè)計(jì)測試人員，及生產(chǎn)線的測試人員。

工程師需要在高頻率的狀況下以的精度來定義元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析儀成為您準(zhǔn)確易用的理想測試工具。

測試參數(shù)

高精度量測

電容C,電感L及阻抗Z基本精確度為±0.05%。損耗因數(shù)D精確度為±0.0005及品質(zhì)因數(shù)Q精確度為±0.05%。

元件圖形掃描

WK6500B系列精密阻抗分析儀不僅提供高頻率，高精度的量測。該設(shè)備還是一個(gè)包含豐富特性的元件分析儀。

曲線掃描可依據(jù)頻率、電壓值和直流偏流源同時(shí)在清晰度高的大型彩色屏幕上顯示任意兩種參數(shù)的曲線。顯示格式包括串聯(lián)或并聯(lián)等效電路。

單測某一頻率時(shí)可以從曲線掃描轉(zhuǎn)換成標(biāo)準(zhǔn)LCR表讀值模式。

WK6500B 精密阻抗分析儀 系列    WK6500B 精密阻抗分析儀 系列 

可變的輸出和偏壓源

交流輸出可選高達(dá)1V或20mA，實(shí)現(xiàn)在真實(shí)操作環(huán)境中來評估元件。可變偏壓直流源可提供達(dá)100mA的電流.

外部控制

在品管或制作檔譜的過程中可通過 GPIB介面來控制儀器和收取讀值.

網(wǎng)端介面也具有同樣的控制儀器和傳輸資料的功能 – 使儀器能適應(yīng)許多不同的測試環(huán)境.

多選擇的介面

VGA介面可連接到PC顯示器或投影機(jī), 這種功能為生產(chǎn)環(huán)境或教學(xué)培訓(xùn)都提供無法衡量的價(jià)值. 本機(jī)還可通過外接鍵盤和滑鼠來操控,任何PS2或USB鍵盤和滑鼠都能簡單的接插到系統(tǒng)中, 提供控制和操作儀器的另一種可行方式.

資料儲存和提取

所有的測試結(jié)果及設(shè)制都可以通過網(wǎng)路介面或USB閃盤來儲存.

分類處理介面

Bin Handler 為可選設(shè)制, 通過25相D型接頭提供獨(dú)立(24V)和非獨(dú)立(5V)的信號.

印表機(jī)輸出

測試結(jié)果可通過幾種不同的途經(jīng)列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的圖形印表機(jī), EPSON相匹配的文字印表機(jī)或直接通過儀器的網(wǎng)口經(jīng)局域網(wǎng)列印.

待測元件連接

可通過面板的BNC接頭來實(shí)現(xiàn)倆端,三端或四埠的連接以及可能的接地狀況.備有許多的可選附件以供不同的測試需要.

充電電容保護(hù)

高精密的測試儀器可能在使用過程中被已充電的電容裝置所損壞,造成昂貴的維修及不必要的停產(chǎn). 6500系列有內(nèi)置的保護(hù)來避免這種情況發(fā)生.

綜合, 精確的高頻測試

“綜合, 精確的高頻測試"使該系列產(chǎn)品是高要求測試的選擇.