半自動(dòng)探針臺(tái)

簡(jiǎn)要描述：CBTZ半自動(dòng)探針臺(tái)
CBTZ自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試，

操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。

與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試

產(chǎn)品型號(hào)：CBTZ
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時(shí)間：2023-06-20
訪問(wèn) 量：4228

產(chǎn)品咨詢聯(lián)系我們

產(chǎn)品詳情

CBTZ半自動(dòng)探針臺(tái)

CBTZ自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試，

操作簡(jiǎn)單，快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功能。

與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能測(cè)試。

CBTZ半自動(dòng)探針臺(tái)

主要技術(shù)參數(shù)

可測(cè)片型：3 寸、 4寸、5寸，6寸、8寸

測(cè)試硅片單元尺寸：20—200 mil

定位精度：≤ ±0.01mm/110mm

自動(dòng)對(duì)準(zhǔn)精度：±0.01mm

誤測(cè)率：≤ 1 ‰

全自動(dòng)對(duì)位時(shí)間：≤ 15 s

測(cè)試速度 45 mil 5.0 pcs/s

50 mil 4.6 pcs/s

87 mil 4.2 pcs/s

步進(jìn)分辨率：0.001

Z向行程：0～5mm 可調(diào)

承片臺(tái)轉(zhuǎn)角θ調(diào)節(jié)范圍：±20o

CBTZ-3100Z型自動(dòng)對(duì)位探針臺(tái)能
對(duì)晶片實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)位測(cè)試，操作簡(jiǎn)單，
快捷，測(cè)試精度高，具有MAP顯示功
能。它與測(cè)試儀連接后，能自動(dòng)完成
對(duì)各種晶體管芯的電參數(shù)測(cè)試及功能
測(cè)試。